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芯硅谷 数显测厚表
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白光干涉测厚仪Delta-NIR
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Xper WLI 白光干涉仪
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德国应用光谱白光干涉膜厚仪
发射信号可连接到几乎每个真空室无需维护舒适和易于使用的PEM—ProVis专业版软件用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试
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中图白光干涉三维轮廓仪
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
部分-无需重复校准-无需维护可连接到标准USB2.0(USB3.0)或选择连到以太网/局域网可用程序库开发特殊的应用 应用领域用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。
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